მობილური ტელეფონის ელექტრომაგნიტური ველის გავლენა ნეირონის პლასტიურობაზე
ავტორი: ბ. ფარცვანია, ლ. შოშიაშვილი, თ. სურგულაძე, ზ. მოდებაძე, ლ. ანდრიაძე, ლ. სანებლიძე
კიბერნეტიკის ინსტიტუტი, თბილისი.
B. Farcvania, l. Shoshiashvili, T. Surguladze, Z. Modebadze, l. Andriadze, l. Saneblidze
Institute of Cibernetiks, Tbilisi, Georgia
|